SDXL
SteinCustom v2
- Subido en
- 18 feb 2025, 23:20
- Utiliza
- 18
- Reseñas
- Sin reseñas
- Pasos de muestreo
30
- Método de muestreo
Euler a
- Escala CFG
5
- Excluir de la imagen
(worst quality,bad quality, normal quality, low quality:1.4), (patreon, signature, logo, watermark:2.0), (blur:1.3), low res, lowres, (high contrast, over saturated)
- Permisos
- Permitir la generación y el intercambio de imágenes
- Permitir que los usuarios descarguen su modelo
- Usos comerciales