SDXL
Shimmer
- Subido en
- 14 mar 2025, 18:52
- Utiliza
- 533
- Reseñas
- Excelente (1)
- Pasos de muestreo
30
- Método de muestreo
Euler a
- Escala CFG
5
- Excluir de la imagen
lowres, (bad), bad anatomy, bad hands, extra digits, multiple views,fewer, extra, missing, text, error, worst quality, jpeg artifacts, low quality, watermark, unfinished, displeasing, oldest, early,chromatic aberration, signature,artistic error, username, scan,
- Permisos
- Permitir la generación y el intercambio de imágenes
- Permitir que los usuarios descarguen su modelo
- Usos comerciales